Microscopio electrónico de barrido con Detector de Rayos X por dispersión de Energía o SEM-EDX

Marca JEOL, modelo JCM-6000. Este instrumento permite obtener imágenes de alta resolución, bajo sistema de alto y bajo vacío, pudiendo observarse características cercanas a las superficies de las muestras con una alta magnificación de hasta 30.000x en sistema de electrones secundarios y 60.000x en sistema de electrones retrodifundidos. El espectrómetro permite además realizar una caracterización elemental de las muestras analizadas. Este análisis es semi- destructivo.